テスト設計コンテスト New！
テスト設計コンテスト'22
最新のテスト設計コンテストについてはこちらからご覧ください。
テスト設計コンテスト
概要
ソフトウェアが世の中の基盤として定着するにつれ、その信頼性、安全性、使用性等を保証するテストの重要性はますます高まりつつあります。しかしながら、テストはソフトウェアの開発において最終段階の重要な位置を占めるにもかかわらず、人海戦術で何とかしのいでいるという状況が多いのではないでしょうか。ソフトウェアを構築する際、いきなりコーディングを行うのではなく、まずは要求分析・設計を行うのと同様に、対象の分析・設計から行うことが効率的かつ信頼性の高いテストを行う上で必要です。しかし多忙を極める現場でテスト設計技術や手法を使いこなすのは難しく、悩みや課題は尽きません。テストエンジニアは悩みや課題に対し、様々な工夫を凝らしていますが、その多くは世に知られることもなく進化を遂げる機会を失っていると言えるでしょう。
テスト設計技術はソフトウェア設計技術と同じく、広く共有し、様々な意見を交換することでさらに進化していくことができます。
JaSST'11 Tokyoより、ソフトウェアテスト技術の向上と促進の機会を提供する場として、テスト設計コンテストを開催しました。コンテストでは、多くのテスト技術者が互いにテスト設計のノウハウやテスト設計の実例などの成果物を公開／共有することができ、多方面から高評価をいただいています。
2017年より、従来のコンテストに加え、若手の方のみが参加できるU-30クラスを設けました。
コンテスト参加という形でテスト設計の観点・技法・方法論を楽しみながらともに成長する機会を提供したいと考えています。
テスト設計を始めたばかりの若い方、自分の仲間と共にさまざまな技術を試してみませんか？
また、従来のコンテストはOPENクラスとして継続いたします。
テスト設計の腕に覚えのある方、独自のテスト設計手法をお持ちの方、是非この機会に腕試しをしてみませんか？また、噂のスゴ腕をご存知の方は、是非コンテストへの出場をお勧めいただけないでしょうか？
参加は個人、企業、学校関係、コミュニティ等の枠を問いません。皆様からの多数のエントリーをお待ちしております。
目的
テスト設計コンテストは以下を目的として実施します。
- ソフトウェアテストを分析設計から行うことを周知し、ソフトウェアテストエンジニアに対する教育の機会を提供する
- コンテストという形式をとることにより、ソフトウェアテストが創造的な作業であり、楽しいということを経験してもらい、若年層及び初級テストエンジニアからベテランテストエンジニアまでテストへの興味を高める
- ソフトウェアテスト業界における技術開発を競技を通じ、促進する
想定参加者
- 企業におけるソフトウェアテストエンジニア、ソフトウェアエンジニア、QAエンジニア等
- ソフトウェアテストに通じるエンジニア個人またはコミュニティメンバ等
- 大学・高専、専門学校、高校等におけるソフトウェア・エンジニアリング受講者、研究者等
コンテスト方式
- 指定のテストベースに対するテスト設計を行い、その優劣を競います。
- コンテストのレベルには、OPENクラスとU-30クラスがあります。U-30クラスは、30歳以下の方に限定させていただきます。
- OPENクラスのコンテストでは各地域予選を行い、優秀と認められたチームが決勝戦へ出場する権利を得ます。
- 決勝戦では予選を通過したチームが集い、その腕を競います。予選で作成したテスト設計資料をさらにブラッシュアップすることで、技術を進化させる楽しみを味わってください。
- U-30クラスは書類による予選を行い、優秀と認められたチームが決勝戦へ出場する権利を得ます。
- U-30クラス、OPENクラスともに、各地域でチュートリアルを実施します。チュートリアルではテスト設計に関する講義を行います。このチュートリアルは一般の方も参加可能です。参加予定チームはもちろん、一般の方もぜひご聴講ください。
◆チュートリアル
◆参加登録
◆予選
OPENクラスは、各地域予選にて成果物を審査、プレゼンテーションを行います。そこで優秀チームを選出します。決勝戦へ選出する優秀チーム数は予選参加チーム数により、1～3チームを予定しています。
U30クラスは、書類のみで成果物を審査し、優秀チームを選出します。
OPENクラス 予選
（終了しました）
U-30クラス 予選
（終了しました）
◆決勝戦
テスト設計コンテスト運営組織
- 主催
- NPO法人 ソフトウェアテスト技術振興協会（ASTER）
- OPENクラス
審査委員会
本部審査委員会
-
- 審査委員長 ：
- 審査委員 ：
- 鈴木 三紀夫 （NPO法人 ASTER理事）
- 湯本 剛 （freee）
- 吉澤 智美 （日本電気）
- 地域審査委員会
-
（★…地域審査委員長、☆…地域審査副委員長）
- 北海道予選審査委員 ：
- 小楠 聡美 （HBA）★
- 根本 紀之 （東京エレクトロン）
- 東京予選審査委員 ：
- 町田 欣史 （NTTデータ）★
- 喜多 義弘 （長崎県立大学）
- 佐々木 方規 （ベリサーブ）
- 西 康晴 （電気通信大学）
- 長谷川 聡 （ベリサーブ）
- 吉澤 智美 （日本電気）
- 東海/関西予選審査委員（調整中） ：
- 秋谷 勤 （東海ソフト）★
- 矢野 恵生 （TEF東海）
- 田中 英和 （日の出ソフト）☆
- 徳 隆宏 （JaSST Kansai実行委員会）
（★…東海予選審査委員長、☆…関西予選審査委員長）
- 書類選考予選審査委員 ：
- 町田 欣史 （NTTデータ）★
- 喜多 義弘 （長崎県立大学）
- 佐々木 方規 （ベリサーブ）
- 西 康晴 （電気通信大学）
- 長谷川 聡 （ベリサーブ）
- 吉澤 智美 （日本電気）
- U-30クラス
審査委員会
-
- 共同審査委員長 ：
- 井芹 洋輝 （テスト設計コンテスト審査委員会）
- 山﨑 崇 （ベリサーブ）
- 審査委員 ：
- 大段 智広 （DMM.com）
- 井芹 久美子（テスト設計コンテスト審査委員会）
- 奥村 健二 （ASTER）
- 坂 静香 （テスト設計コンテスト審査委員会）
- 蛭田 恭章 （ベリサーブ）
- 実行委員会
-
- 共同実行委員長 ：
- 佐藤 陽春 （テスト設計コンテスト実行委員会）
- 杉田 正実 （田研出版）
- 実行委員 ：
- 秋谷 勤 （東海ソフト）
- 飯塚 弘敏 （テスト設計コンテスト実行委員会）
- 大段 智広 （DMM.com）
- 岡野 麻子 （テスト設計コンテスト実行委員会）
- 小楠 聡美 （HBA）
- 加澤 繁信 （NTTデータMSE）
- 越川 徹也 （テスト設計コンテスト実行委員会）
- 後藤 香織 （テスト設計コンテスト実行委員会）
- 五味 悠一郎 （日本大学）
- 笹瀬 いずみ （テスト設計コンテスト実行委員会）
- 笹瀬 義久 （テスト設計コンテスト実行委員会）
- 高橋 千紘 （ベリサーブ）
- 竹内 裕一 （テスト設計コンテスト実行委員会）
- 鳴瀧 千晶 （NECソリューションイノベータ）
- 根本 紀之 （東京エレクトロン）
- 藤田 将志 （東京エレクトロン）
- 藤本 千央 （テスト設計コンテスト実行委員会）
- 吉澤 智美 （日本電気）
著作権について
- テスト設計コンテスト参加のために新たに設計したテスト設計などの著作権は、作成者に帰属します。
参加したチームの準備段階から競技会当日にいたる過程でテスト設計コンテスト実行委員会が撮影、録画した映像、音声や、テスト設計書など一般開示した技術情報と取材内容は、Web、雑誌などに掲載することができるものとします。
- 全参加チームへの電子データによる配布、各会場における提示、あるいは翌年以降の参加チームへの参考情報として開示・配布することがありますので、他の参加チーム向けあるいは各会場において開示・配布可能なものをご提出ください。
- テスト設計コンテストの趣旨は、テストエンジニア育成と技術の普及にあります。このためにテスト設計コンテスト実行委員会などが学会、書籍、Web、セミナーなどで競技者の著作物を引用する場合があります。この際の引用元は、"テスト設計コンテスト実行委員会"または"テスト設計コンテスト資料集・実行委員会編"とし個別の引用許諾は省略します。引用する場合についても、チーム名等の公開情報までを記載できるものとし、それ以外の情報は記載しません。（許諾される場合は、この限りではありません）
参加申し込みをされる方は、上記条件を承認していただいたものとします。
個人情報の取り扱い
