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テスト設計コンテスト'18
 - U-30クラス チュートリアル

U-30クラス チュートリアルについて

みなさんはテストをどのように行っているでしょう?
漫然とテスト仕様書に従ってテストしていませんか?そのテスト仕様書は単なるシステム仕様書に書かれていることの裏返しになっているだけではありませんか?システム仕様書に書かれていることを疑ったことはあるでしょうか?システム仕様書に書かれていないことがテストできず、バグとして流出してしまったことはありませんか?もしかしたら、システム仕様書に書かれているのにテストできないことすらあったりしませんか?
NPO法人ASTERではこのような低いレベルのテストから脱却するための試みとして、テスト設計コンテストを開催しています。
このチュートリアルでは、テストすべきこととは何か、を考えるところから始まり、抜け漏れを防ぎ、テストの全体像を組み立てるということについて易しく解説していきます。
なお、本チュートリアルは初心者向けの内容となっていますが、参加資格に制限はありません。テストについて今一度振り返ってみたい方も多くのヒントを得ることができるでしょう。多くの方々のご参加をお待ちしています。

U-30クラス チュートリアル概要

1. テスト観点(テストすべきこと)を整理して、網羅的に挙げよう

テストすべきことを挙げきることは、バグを防ぐために大切な考え方です。ここではテストすべきことを網羅的に挙げるとはどのようなことか、どのように行ったらよいかについて、Myersの三角形問題を題材にして具体例を挙げながら説明します。また、テストは網羅的に行うことも必要ですが、効率的にバグを見つけるためにピンポイントでバグを狙って検出する、というテスト設計も必要です。ピンポイントでバグを狙うためのテスト観点やその導き方についても合わせて紹介します。

2. テストフレーム(テストケースの構造)を考えよう

テストすべきことをテスト観点として列挙したら、それらをまとめてテストケースにしていきます。その時にテストケースの構造を考えると、網羅しやすいテスト設計になります。ここではテストケースの構造とはどのようなことか、どのようにまとめていったらよいかについて説明します。

3. テストコンテナ(テスト観点やテストフレームをまとめたもの)とその間の順序関係を考えよう

テストケースの構造をテストフレームとしてまとめたら、テストの全体像を考えてみましょう。皆さんは単体テストや結合テスト、システムテストといったテストレベル、負荷テストや動作環境変更テスト、性能テスト、セキュリティテストといったテストタイプ、1回目の機能テストや2回目の回帰テストといったテストサイクルなどで、テストの全体像を捉えていると思います。こうしたテストコンテナとしてうまくテスト観点やテストフレームをまとめると、見通しの良いテスト設計になり、後工程や後プロジェクトでテストしやすくなります。ここではテストの全体像とはどんなものなのか、どのようにまとめていったらよいかについて説明します。

4. テスト観点からテスト値を網羅しよう

3.までは徐々にテストの全体像を捉えていく話でしたが、4.では逆に詳細なテストデータなどを決めていきます。ここではテストデータを網羅するパターンとして、範囲タイプ、一覧表タイプ、マトリクスタイプ、グラフタイプの4つのテストモデルを紹介し、それぞれの網羅基準とテストデータの導き方を説明します。

5. 「テスト開発」を意識して進めてみよう

このように体系的にテストケースを設計していく行為全体をテスト開発プロセスと呼びます。ここまで説明してきたことをプロセスの側面から総括します。

6. 2017年から見えてきたU-30での課題

前回のU-30の審査から見えてきた、テスト設計を行う上で見えてきた課題について示します。

U-30クラス チュートリアル資料

U-30クラス チュートリアル対象者

内容はテストの考え方、テスト設計の基礎についての講義が中心となります。
対象者として、以下のような方々を想定しています。

  • テストを行ったことはある
  • テスト設計として何を作ったらよいかわからない
  • 『テスト設計コンテスト審査基準2018』を読んでも具体的なイメージがわかない

チュートリアルは参加チームでない方、OPENクラス参加チームの方聴講も可能です。
テスト設計とはどのように行うのか、ご興味ある方、勉強中の方、ぜひご参加ください。

※U-30のチュートリアルは、年齢に関係なくどなたでも聴講いただけます。

U-30クラス チュートリアルスケジュール

◆北海道会場

開催日程

2017年7月13日(木) 【終了しました】
18時30分~21時(終了時間は予定)

開催場所

東京エレクトロン株式会社 札幌事業所 3階会議室
(〒060-0051 札幌市中央区南1条東1丁目 大通バスセンタービル1号館2階)

講師

根本 紀之 (東京エレクトロン)

小楠 聡美 (HBA)

安達 賢二 (HBA)

◆東京会場

開催日程

2017年7月1日(土) 【終了しました】

開催場所

株式会社アカツキ 本社オフィス
(東京都品川区上大崎2-13-30 oak meguro 8階)

講師

福良 智明 (オープンストリーム)

山﨑 崇 (ベリサーブ)

備考

ご来場の際は公共交通機関のご利用をお願いいたします。

◆東海/関西会場

開催日程

2017年8月26日(土)

開催場所

東海ソフト セミナー室
(〒450-0002  愛知県名古屋市中村区名駅二丁目38番2号 オーキッドビル6F)

講師

秋谷 勤 (東海ソフト/APTJ)

備考

ご来場の際は公共交通機関のご利用をお願いいたします。

U-30クラス チュートリアル参加お申込み

チュートリアルは地域予選開催エリアにて、7月上旬~9月下旬に順次開催します。

お申込みは、原則各チュートリアル実施日の5日前まで受け付けます。
席に余裕がある場合は、5日前を過ぎてもお申込みを受け付けることがあります。
受付中の場合は、下記のお申し込みページにて表示されますので、ご確認ください。
チュートリアル参加料は無料です。

お問い合わせ

お問い合わせは、テスト設計コンテスト実行委員会宛にご連絡下さい。

テスト設計コンテスト実行委員会
 E-mail: aster-tdc-query@qualab.jp

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