NPO法人ソフトウェアテスト技術振興協会 事業内容-テスト設計コンテスト'18-OPENクラス チュートリアル
HOME > 事業内容 > テスト設計コンテスト > OPENクラス チュートリアル
今年度のOPENクラス チュートリアルはすべて終了いたしました。
多くのご参加をいただき、ありがとうございました。
テストと呼んではいるものの、曖昧で抜けだらけの発注先の仕様をなぞるだけの、意図の分からない単純労働に膨大な時間を費やしていませんか。
品質保証と呼びながら、一体どんな品質を保証しているかの全体像すら誰にも説明できない苦境に陥ってはいませんか。
こうした質の低いテストから脱却するためのチャレンジの場として、NPO法人ASTERではテスト設計コンテストを開催しています。
このチュートリアルでは、過去のコンテストの応募作を基にして、意図がきちんと分かり全体像を説明できる質の高いテストを設計するための考え方を解説します。
なお、昨年度のテスト設計コンテストの応募作の解析も取り入れた内容になっておりますので、過去に聴講したことのある方でも参考になるものと思います。多くの方々のご参加をお待ちしています。
より精度の高いテストの実現にはプロセスが必要です。ここでは、テストプロセスの必要性と各工程の内容を説明します。
テスト対象物を多くの観点から理解することが精度の高いテストを実現します。
ここでは、分析観点の導出や分析結果のアーキテクチャへのつなげ方などを過去の成果物を例にして説明します。
テストアーキテクチャが適切に設計されることで、テストの高精度化や資産化が可能になります。ここでは、過去のテストアーキテクチャの成果物を例にして説明します。
分析、設計を経たテスト情報を実行可能にするために詳細設計ならびに実装方法を説明します。
講師らの過去の経験も踏まえ、テスト開発プロセスを現場に適用する際のポイントを紹介します。
過去のテスト設計コンテストの決勝に残ったテストアーキテクチャを例に、実践に役立つテスト設計について具体的に解説します。
チュートリアルの資料については下記よりダウンロードし、当日ご持参ください。
【OPENクラス チュートリアル資料のダウンロード】
http://aster.or.jp/business/contest/doc/2018_open_V1_0.zip
【OPENクラス チュートリアル資料（印刷用）のダウンロード】
http://aster.or.jp/business/contest/doc/2018_open_V1_0_Print.zip
内容はテスト設計の基礎についての講義が中心となります。
対象者として、基本的なテスト技法は理解していることを前提とし、
以下のような方々を想定しています。
チュートリアルは参加チームでない方の聴講も可能です。
テスト設計とはどのように行うのか、ご興味ある方、勉強中の方、ぜひご参加ください。
| 開催日程 | 2017年7月20日（木） 【終了しました】 |
|---|---|
| 開催場所 | 東京エレクトロン株式会社 札幌事業所 3階会議室 |
| 講師 | 小楠 聡美 （HBA） 根本 紀之 （東京エレクトロン） 安達 賢二 （HBA） |
| 備考 | ご来場の際は公共交通機関のご利用をお願いいたします。 |
| 開催日程 | 2017年7月1日（土） 【終了しました】 |
|---|---|
| 開催場所 | 株式会社アカツキ 本社オフィス |
| 講師 |
町田 欣史 （NTTデータ） |
| 備考 | ご来場の際は公共交通機関のご利用をお願いいたします。 |
| 開催日程 |
2017年8月26日（土） 【終了しました】 |
|---|---|
| 開催場所 | 東海ソフト セミナー室 |
| 講師 | 矢野 恵生 （TEF東海） |
| 備考 | ご来場の際は公共交通機関のご利用をお願いいたします。 |
今年度のOPENクラス チュートリアルはすべて終了いたしました。
多くのご参加をいただき、ありがとうございました。
チュートリアルは地域予選開催エリアにて、7月上旬～9月下旬に順次開催します。
お申込みは、原則各チュートリアル実施日の5日前まで受け付けます。
席に余裕がある場合は、5日前を過ぎてもお申込みを受け付けることがあります。
受付中の場合は、下記のお申し込みページにて表示されますので、ご確認ください。
チュートリアル参加料は無料です。